2025年8月，全国优质科学科技研究成果和进步奖评选工作圆满完成，评选结果正式公布。中创晋新（山西）科技有限责任公司申报的“芯片性能分析优化测试平台”项目，凭借突出的技术创新能力与产业应用价值，荣获科技成果奖一等奖。

本次评选由中国科学技术协会相关活动组织实施，面向全国各类科创主体征集科技成果。评审专家组围绕技术创新程度、经济效益、社会效益、行业带动作用等指标开展综合评审，重点考核项目关键技术突破、成果转化水平及产业化应用潜力，旨在发掘优质科创项目，鼓励市场主体坚持自主创新，加快先进技术推广与落地。

本次获奖的“芯片性能分析优化测试平台”，是中创晋新（山西）科技有限责任公司深耕电子信息领域、面向芯片测试场景打造的自主研发成果。针对传统芯片性能测试流程中的痛点难点，该项目搭建了一体化分析优化测试平台，可实现芯片性能数据采集、智能分析、调优验证等全流程作业，有效提升芯片测试效率、降低综合测试成本，可为集成电路、工业智能硬件研发提供稳定可靠的测试支撑方案，具备良好的产业化推广前景。

自2025年8月获奖以来，该公司持续推进该项技术成果的迭代优化与场景验证，不断完善平台功能、拓展行业应用边界。该荣誉充分体现了评审专家组对该公司技术研发体系、技术路线及成果转化潜力的肯定。项目研发阶段，该公司研发团队紧扣产业实际需求，集中力量开展技术攻关，打通技术研发、样机调试、效果验证全流程，保障平台顺利研制。

作为山西省本土科技创新企业，中创晋新（山西）科技有限责任公司始终坚持创新驱动发展战略，持续布局集成电路、智能硬件、数字化软件等技术研发方向，不断完善知识产权布局，稳步推进科技成果转化落地。下一步，该公司将以本次获奖成果为基础，持续加大研发投入，迭代升级平台技术方案，推动芯片测试配套技术在工业、通信等领域广泛应用，切实发挥科创企业示范带动作用，为区域数字经济与集成电路配套产业高质量发展贡献力量。